Paper transistor
⚠️ Il PDF disponibile è il documento ufficiale “Solutions to Experimental Problem 1 — Paper transistor” (Sketch of the solutions) dell’IPhO 2018 (Lisbona, Portogallo), in inglese. Contiene lo svolgimento e i dati attesi, ma non il testo del problema. Il testo completo del problema (con il setup sperimentale) non è presente in questo archivio; la struttura del problema è ricostruita dalle soluzioni.
Titolo: Paper transistor — Problema sperimentale 1 dell’IPhO 2018.
Il problema studia un dispositivo simile a un transistor realizzato su carta: si misura la resistenza di un film sottile, la sua resistività e la resistenza di foglio (sheet resistance) , e si caratterizza il comportamento da transistor misurando la corrente drain-source al variare delle tensioni di gate e drain.
- Parte A — Dimensionamento del circuito (Circuit dimensioning): uso del partitore di tensione e misure di resistenza dei film, determinazione della resistività e della sheet resistance.
- Parte B — Caratterizzazione del transistor: misura delle correnti , tensioni di uscita caricate e non caricate, fattore di partizione , e curve caratteristiche del dispositivo.
Topic: Circuits, Electromagnetism, Elasticity & Materials Metodi: Kirchhoff’s Laws, Graph Linearization, Experimental Data Analysis, Curve Fitting Competenze: Experimental Data Analysis, Measurement & Instrumentation, Curve Fitting Objects: Resistor Fonte: Testo (PDF) — p.1
Transistor di carta
️ Il PDF disponibile è il documento ufficiale “Soluzioni al problema sperimentale 1 transistor di carta” (Squizzo delle soluzioni) dell’IPhO 2018 (Lisbona, Portogallo), in inglese. Contiene il svolgimento e i dati attesi, ma non il testo del problema. Il testo completo del problema (con l’impostazione sperimentale) non è presente in questo archivio; la struttura del problema è ricostruita dalle soluzioni.
**Titolo: ** Transiostro di carta Problema sperimentale 1 dell’IPhO 2018.
Il problema che si verifica è che un dispositivo simile a un transistor realizzato nella sua carta: se misura la resistenza di un film sottile, la sua resistività e la resistenza di foglio , si caratterizza il comportamento del transistor misurando la corrente di scarico alle variazioni delle tensioni del gate e del scarico.
- ** Parte A Dimensione del circuito: ** uso del partito di tensione e misure di resistenza del film, determinazione della resistività e della resistenza della lamiera.
- ** Parte B Caratterizzazione del transistor: ** misura delle correnti , tensioni di caricatura uscita e non caricatura, fattore di partizione , e caratteristiche curve del dispositivo.
Topic: Circuits, Electromagnetism, Elasticity & Materials Metodi: Kirchhoff’s Laws, Graph Linearization, Experimental Data Analysis, Curve Fitting Competenze: Experimental Data Analysis, Measurement & Instrumentation, Curve Fitting Objects: Resistor Fonte: Testo (PDF) — p.1